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617 晶體光學考研大綱
一、考試性質與范圍
《晶體光學》是礦物學、巖石學、礦床學專業碩士研究生的入學專業基礎考
試課程。主要考查學生對《晶體光學》基本概念和基本原理的掌握，以及是否具
備運用偏光顯微鏡，在單偏光系統、正交偏光系統和錐光（聚斂偏光）系統下觀
察和鑒定透明礦物晶體光學性質的基本能力?？荚嚪秶ü獾幕靖拍?、光率
體、偏光顯微鏡原理，以及單偏光、正交偏光和錐光（聚斂偏光）下晶體的光學
性質與測定方法。
二、考試基本要求
考試題目類型因年而異，包括概念、選擇、填空、判斷正誤、公式推導、作
圖、簡答和分析論述等不同形式。
考生需要攜帶鉛筆、橡皮、直尺、圓規、量角器。
三、考試形式與分值
本課程由學校自行命題，全國統一考試。采用閉卷筆試形式，考試時間 180
分鐘，滿分 150 分。
四、考試內容
1. 基本概念
（1）光的性質與傳播；（2）自然光和偏光；（3）光的折射與全反射；（4）折射率與折射率
儀；（5）光的雙折射；（6）一軸晶和二軸晶
2. 光率體
（1）光率體；（2）一軸晶光率體；（3）二軸晶光率體；（4）光率體的主要參數；（5）光性
方位
3. 偏光顯微鏡
（1）偏光顯微鏡的構造；（2）偏光顯微鏡的光學系統；（3）偏光顯微鏡的調節；（4）薄片
的制作
4. 單偏光系統下晶體的光學性質
（1）形態；（2）解理；（3）吸收；（4）界面
5. 正交偏光系統下晶體的光學性質
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（1）消光；（2）干涉原理；（3）干涉色；（4）干涉色級序的確定；（5）補色原理與補色器；
（6）消光類型與消光角；（7）延性；（8）雙晶
6. 錐光（聚斂偏光）系統下晶體的光學性質
（1）錐光（聚斂偏光）系統；（2）一軸晶的干涉圖；（3）二軸晶的干涉圖；（4）光率體色
散
7. 晶體光學應用
（1）單偏光系統下的性質測定：包括晶形、顏色或多色性、突起與糙面、解理及解理角等；
（2）正交偏光系統下的性質測定：包括最高干涉色、最大雙折射率、消光類型及消光角、
延性符號、多色性和吸收性公式、異常干涉色等；
（3）錐光（聚斂偏光）系統下的性質測定：包括按干涉圖類型確定礦物的軸性、測定光性
符號、估計光軸角大小、色散強弱等
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