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1 2018 年武漢工程大學碩士研究生入學考試 《光電探測與信號處理》考試大綱 一. 參考教材: 1、安毓英主編:《光電子技術》,電子工業出版社, 2008 版 2、葉嘉雄,常大定等編著:《光電系統與信號處理》,科學出版社,1997 年版 (備注:以 1 為主,2 為輔。) 二. 考試方法、考試時間 閉卷考試,試卷滿分 150 分。考試時間 180 分鐘 三. 試題形式 基本概念 約占 20% 理論理解分析 約占 30% 應用 約占 50% 試題一般由選擇題、填空題、應用計算題組成。 四. 考試內容及要求 《光電探測與信號處理》是光電技術方向的專業基礎理論課程,它主要研究 光電器件的工作原理、性能以及各種實際的應用,同時對光電系統的設計基礎(即 光電信號處理)有著基本的要求。要求考生熟悉和掌握光電轉換的基本理論和應 用,要準確掌握各種探測器的基本原理與性能參數,對探測技術能熟練應用。對 成像技術、顯示技術的各種原理有深入的了解,能應用原理分析具體器件的性能。 通過考試要體現出考生的探測及顯示技術方面的理論基礎和綜合素質。因此參加 該門課程考試的考生須掌握如下內容: 1. 光輻射、發光源與光傳播基本定律 1)輻射度學、光度學的基本知識與基本定律 2)典型的激光器 2. 光束的調制和掃描 1)調制的基本原理、分類 2)電光調制 3)了解聲光調制、磁光調制 2 3. 光輻射的探測技術 1)光電探測的物理學基礎 2)光電導探測器 3)光電子發射探測器(PMT) 4)光伏探測器(光電二極管、光電三極管、PIN 管、APD) 5)熱電效應探測器(熱回路方程、熱電偶、熱電堆、測輻射熱計、熱釋 電效應探測器) 6)光頻外差探測技術 4. 光電成像系統 1)光電成像原理、主要性能參量 2)真空攝像管 3)CCD 固體成像器件工作原理、性能分析、器件結構 4)CMOS 固體成像器件工作原理、結構、性能分析 5)了解圖像增強器 5.顯示技術 1)顯示技術基礎(亮度、顏色、視覺、色度坐標) 2)液晶顯示技術(液晶材料的微觀結構特點、分類、特性,液晶顯示器 件的結構、工作原理、性能分析) 3)等離子顯示技術(工作原理、器件結構、性能分析) 4)了解陰極射線管、電致發光顯示技術 6. 光電信號處理 1)光電系統噪聲分析 2)偏置電路 3)放大電路 4)弱信號檢測
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