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3023 《材料分析測試技術》考試大綱
考試科目：
材料分析測試技術
考試形式和試卷結構：
一、試卷性質
試卷滿分為 100 分；
考試時間為 180 分鐘。
二、答題方式
閉卷（筆試）。
三、試卷題型結構
名詞解釋（20 分） 10 題左右；
簡答題 （40 分） 5 題左右；
論述題（40 分） 2 題左右。
四、考試主要內容及要求
X 衍射分析、掃描電鏡分析和透射電鏡分析三大內容在物相分析、點陣常數
測定、晶體結構和表面形貌分析方面的內容是考試的重點。
1、X 射線的性質與衍射基礎
主要考查考生對射線的本質、射線的產生、x 射線與物質的相互作用以及 x
射線衍射的試驗方法的掌握程度。
重點考查考生對 x 射線物相分析、點陣常數的精確測定、宏觀應力測定和織
構測定的理解和掌握程度。
2、電子顯微分析原理
重點考查考生對像襯形成原理、電子衍射原理和衍射襯度成像分析的掌握情
況。是考試的重點內容之一。
3、掃描電子分析基礎
重點考查學生對掃描分析技術的應用。
4、透射顯微分析基礎
重點考查學生對透射分析技術的應用。
5、其他分析測試方法
如熱分析方法、電子探針微區分析等內容，要求考生對其基本理解和應用范
圍有基本的理解。
五、參考書目
1、《材料分析測試技術》齊海群 主編，北京大學出版社，2011
2、《現代材料分析測試技術》管學茂 等編著，中國礦業大學出版社，2013
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