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857《材料測試技術》考試大綱
1. 試卷結構和考試形式
試卷分為簡答和綜合兩類題目，簡答題相對容易，主要考查基本知識和原理的
掌握，綜合題相對難度較高，考查實際分析和應用能力。
2. 考試時間 2 小時,滿分 100 分。
3. 答題方式為閉卷、筆試。
4. 參考書目
參考教材：
楊南如主編：《無機非金屬材料測試方法》 ，武漢，武漢工大出版社 2007
管學茂主編：《現代材料測試技術》 ，徐州，中國礦業大學出版社 2013
5. 考試內容
考試內容原則上以前四三部分為主，第五部分相對較少。
第一部分 X 射線衍射的原理與應用
X 射線在電磁波譜中的波段， X 射線的本質；X 射線產生條件及 X 射線管；
X 射線譜，連續譜，特征譜產生機理；X 射線與物質的相互作用，相干散射，非
相干散射，X 射線的吸收，吸收系數，吸收限。
晶體幾何學，布拉格方程與討論；X 射線分析方法：粉末照相法（德拜照相
法）；X 射線衍射儀法；衍射儀的測量方法與實驗參數，衍射線的指標化；
點陣常數測量中的誤差來源，點陣常數的精確測定，定性分析的原理和分析
思路；粉末衍射卡的組成；PDF 卡片的索引；物相定性分析方法；物相定量分析
方法。
第二部分 透射電子顯微鏡的原理、結構與應用
電子波與電磁透鏡；電磁透鏡的像差與分辨本領，電磁透鏡的景深與焦長，
透射電子顯微鏡的結構與成像原理，照明系統，成像系統，觀察記錄系統；主要
部件（測角器、樣品桿、消像散器、光欄）的結構與工作原理；透射電子顯微鏡
的發展。
電子衍射與 X 射線衍射的比較；電子衍射原理，布拉格方程、電子衍射基本
公式；電子顯微鏡中的電子衍射，有效相機常數，選區衍射，磁偏轉角；單晶體
電子衍射花樣的標定。衍襯成像原理；質厚襯度；衍襯襯度，相位襯度，樣品的
制備。
第三部分 掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析
電子束與固體樣品相互作用時產生的物理信號；掃描電子顯微鏡的結構和工
作原理；掃描電子顯微鏡的主要性能；表面形貌襯度原理及其應用；原子序數襯
度原理及其應用。電子探針儀的結構與工作原理，電子探針儀的分析方法及應用，
波譜儀，能譜儀。
第四部分 熱分析
熱重分析基本原理；差熱分析基本原理；差示掃描量熱分析基本原理；動
態熱機械分析基本原理；熱分析定性與定量分析方法。
第五部分 其它分析方法簡介
光電子能譜，離子探針，低能電子衍射，俄歇電子能譜儀，場離子顯微鏡，
掃描隧道電子顯微鏡和原子力顯微鏡, 光譜分析基本原理，原子光譜，分子光譜。
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