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天津理工大學博士研究生入學考試大綱
一、考試科目：電子顯微學基礎 （3006）
二、考試方式：考試采用筆試形式，考試時間為 180 分鐘，試卷滿分為 100 分。（希望能改成
面試）
三、試卷結構與分數比重：
1．基本內容題：占 40%
主要以基本概念的理解和對電子顯微鏡各部分結構的認識為主，由判斷題和名詞解釋等形
式組成。
2．簡答題和論述題：占 60%
主要是對透射電子顯微鏡的成像原理及光路圖、電子光學系統的組成、電子顯微鏡圖像襯
度等進行闡述。
四、考查的知識范圍：
主要考察考生的知識結構和對基本知識的掌握情況，以電子顯微學的基本內容為主，幾
個專題內容為輔。
1． 透射電子顯微鏡的成像原理
阿貝成像原理，具有一定波長的電子束入射到晶面間距為 d 的晶體時，在滿足布拉格條
件的特定角度產生衍射波。這個衍射波在物鏡的后焦面上會聚成一點，形成衍射點（把后焦
面上形成的衍射點在熒光屏上顯現出來，得到電子衍射花樣）。在后焦面上的衍射波繼續向前
運動時，衍射波合成，在像平面上形成放大的像（即電子顯微像）。（參見《材料評價的高分
辨電子顯微方法》）
2．電子光學系統的組成
包括照明系統、成像系統、觀察和記錄系統。透射電鏡的照明系統通常位于鏡筒的最頂
端，可提供入射電子及控制入射電子的強度和會聚角，由電子槍和聚光鏡系統組成。成像系
統：電子槍發射出的電子經電場加速，到達雙聚光鏡（C1、C2 lens），會聚后的電子束近似
于平行束；平行電子束照射到樣品上與樣品發生相互作用后，將攜帶樣品的信息；隨后，電
子束到達物鏡，在后焦面形成衍射花樣，在像平面成像。如果中間鏡的物面位于物鏡的像面，
投影鏡的物面位于中間鏡的像面，則像被放大，最終成像在投影鏡的像面，即熒光屏上。如
果中間鏡的物面位于物鏡的后焦面，則物鏡后焦面的電子衍射圖將被放大到熒光屏上。像的
觀察是通過熒光屏進行的，而像的記錄可采用 CCD 相機、照相底片等。
3．電子顯微鏡圖像的襯度
電子顯微鏡圖像襯度包括質厚襯度、衍射襯度和相位襯度。
五、參考書目：
1. 材料微觀結構的電子顯微學
分析
2. 材料評價的高分辨電子顯微
方法
3. 材料結構電子顯微分析
4. 高空間分辨分析電子顯微學
1. 冶金工業出版社
2. 冶金工業出版社
3. 天津大學出版社
4. 科學出版社
1. 黃孝瑛
2. 進藤大輔、平賀賢二
著，劉安生 譯
3. 劉文西，黃孝瑛，陳
玉如
4. 朱靜，葉恒強，王仁
卉，溫樹林，康振川
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